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Benchmarking break-junction techniques: electric and thermoelectric characterization of naphthalenophanes
基准断裂结技术:萘的电和热电表征
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期刊:Nanoscale 作者:Juan Hurtado-Gallego; Sebastiaan van der Poel; Matthias Blaschke; Almudena Gallego; Chunwei Hsu; et al 出版日期:2024-01-01 |
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