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 Solution-processed memristors: performance and reliability 解处理忆阻器的性能和可靠性
相关领域
记忆电阻器
可靠性（半导体）
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期刊：Nature Reviews Materials 作者：Sebastián Pazos; Xiangming Xu; Tianchao Guo; Kaichen Zhu; Husam N. Alshareef; et al 出版日期：2024-04-12 |
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