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 A Correlative Study of Film Lifetime, Hydrogen Content, and Surface Passivation Quality of Amorphous Silicon Films on Silicon Wafers 硅片上非晶硅薄膜寿命、氢含量与表面钝化质量的相关性研究
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期刊：IEEE Journal of Photovoltaics 作者：Huiting Wu; Hieu T. Nguyen; Lachlan E. Black; AnYao Liu; Rong Liu; et al 出版日期：2020-09-01 |
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