| 标题 |
 Accelerated Life Test of High Brightness Light Emitting Diodes 高亮度发光二极管的加速寿命试验
相关领域
发光二极管
材料科学
结温
光电子学
压力（语言学）
二极管
降级（电信）
亮度
加速老化
热的
复合材料
光学
电子工程
气象学
哲学
工程类
物理
语言学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 作者：Lorenzo Roberto Trevisanello; Matteo Meneghini; G. Mura; M. Vanzi; M. Pavesi; et al 出版日期：2008-06-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
WWshu
寻道图强
rocky15
bryceeluo
Frank
林圆圆
嗯哼
kento
银色的喵咪
爱静静
鹊起
sissiarno
乐乐乐乐乐乐
浅弋
kisa
小二郎
行隐
hhhh
Lucas
乐乐
皖公网安备34019202002308
