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 Accelerated Life Test of High Brightness Light Emitting Diodes 高亮度发光二极管的加速寿命试验
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期刊：IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 作者：Lorenzo Roberto Trevisanello; Matteo Meneghini; G. Mura; M. Vanzi; M. Pavesi; et al 出版日期：2008-06-01 |
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