标题 |
Correction to: Measurement of the electronic structure of a type-II topological Dirac semimetal candidate VAl3 using angle-resolved photoelectron spectroscopy
更正:使用角分辨光电子能谱测量II型拓扑狄拉克半金属候选物VAl3的电子结构
相关领域
半金属
X射线光电子能谱
Dirac(视频压缩格式)
类型(生物学)
电子结构
物理
拓扑(电路)
凝聚态物理
量子力学
核磁共振
地质学
工程类
带隙
电气工程
古生物学
中微子
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Tungsten 作者:Hong-Wei Fang; Aiji Liang; Niels B. M. Schröter; Shengtao Cui; Zhongkai Liu; et al 出版日期:2023-08-14 |
求助人 | |
下载 | |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|