标题 |
X-Ray Computed Tomography (CT) Technology for Detecting Battery Defects and Revealing Failure Mechanisms
用于检测电池缺陷和揭示失效机制的X射线计算机断层扫描(CT)技术
相关领域
电池(电)
热失控
可靠性工程
临界性
计算机科学
计算机断层摄影术
法律工程学
系统工程
工程类
医学
功率(物理)
物理
量子力学
放射科
核物理学
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其它 |
期刊:Journal of Electronic Materials 作者:Yingjie Jiang; Anqi Tian; Yan Li; Xueqi Du; Lanmei Yang; et al 出版日期:2024-07-27 |
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