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Correlation between Ga-O signature and midgap states at the Al2O3/In0.53Ga0.47As interface
Al2O3/In0.53Ga0.47As界面Ga-O特征与中隙态的相关性
相关领域
X射线光电子能谱
砷化镓
分析化学(期刊)
锌化合物
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期刊:Applied Physics Letters 作者:Igor Krylov; A. Gavrilov; M. Eizenberg; D. Ritter 出版日期:2012-08-06 |
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