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A New Grain Boundary Model for Drift-Diffusion Device Simulations in Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors
一种用于多晶硅薄膜晶体管漂移扩散器件模拟的新晶界模型
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期刊:Japanese Journal of Applied Physics 作者:Yoshinori Kitahara; Shuichi Toriyama; Nobuyuki Sano 出版日期:2003-06-15 |
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