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Electronic transport through carbon nanotubes - effect of contacts, topological defects, dopants and chemisorbed impurities
碳纳米管中的电子输运——接触、拓扑缺陷、掺杂剂和化学吸附杂质的影响
相关领域
掺杂剂
碳纳米管
化学吸附
材料科学
纳米技术
密度泛函理论
纳米机电系统
分子电子学
拓扑缺陷
化学物理
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纳米电子学
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期刊：TechConnect Briefs 作者：Amitesh Maiti; J Hoekstra; Jan Andzelm; Niranjan Govind; Alessandra Ricca; et al 出版日期：2005-02-11 |
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