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Performance and Reliability of 12.5-Gb/s Oxide-Free 850-nm Mesa VCSELs 12.5 Gb/s无氧化物850nm台面VCSEL的性能和可靠性
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期刊:IEEE Journal of Quantum Electronics 作者:M. V. R. K. Murty; L. M. F. Chirovsky; Syn-Yem Hu; D. Venables; Michael Cheng; et al 出版日期:2008-01-01 |
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