| 标题 |
 Quantitative temperature profiling across nanoheater on silicon-on-insulator wafer using null-point scanning thermal microscopy 使用零点扫描热显微镜在绝缘体上硅晶片上纳米加热器上的定量温度分布
相关领域
扫描热显微术
材料科学
绝缘体上的硅
薄脆饼
扩展阻力剖面
热阻
硅
玻尔兹曼方程
纳米尺度
光电子学
热的
表征（材料科学）
纳米电子学
纳米技术
热力学
物理
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：International Journal of Thermal Sciences 作者：Gwangseok Hwang; Ohmyoung Kwon 出版日期：2016-05-11 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成，仅限求助人下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
爱静静
VDC
MchemG
Grayball
迷人秋烟
迟大猫
cdercder
back you up
开心岩
Lucas
FashionBoy
xiaxiao
clairevox
cherry_mm
昏睡的蟠桃
Kevin
高大凌寒
yu
pcr163
iNk
皖公网安备34019202002308
