标题 |
Utility of Shockley–Read–Hall analysis to extract defect properties from semiconductor minority carrier lifetime data
相关领域
载流子寿命
霍尔效应
兴奋剂
半导体
超晶格
凝聚态物理
俄歇效应
材料科学
重组
带隙
半导体器件
螺旋钻
光电子学
物理
原子物理学
化学
硅
纳米技术
电阻率和电导率
生物化学
量子力学
图层(电子)
基因
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Journal of Applied Physics 作者:Preston T. Webster; Rigo A. Carrasco; Alexander T. Newell; Julie V. Logan; P. C. Grant; et al 出版日期:2023-03-28 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|