| 标题 |
 A Highly Reliable Molybdenum Disulfide-Based Synaptic Memristor Using a Copper Migration-Controlled Structure 采用铜迁移控制结构的高可靠性二硫化钼基突触忆阻器
相关领域
二硫化钼
记忆电阻器
材料科学
铜
钼
二硫键
纳米技术
化学工程
电子工程
化学
复合材料
冶金
生物化学
工程类
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
不配.
Singularity
爱静静
shinysparrow
浅尝离白
元谷雪
Henry
kento
寻道图强
zyfqpc
一一
AireenBeryl531
tuanheqi
ShowMaker
HEIKU
罗又柔
iNk
Hayat
云瑾
rosalieshi
皖公网安备34019202002308
