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Analysis of the relationship between the contact barrier and rectification ratio in a two-dimensional P–N heterojunction
相关领域
整改
异质结
光电子学
材料科学
化学
物理
热力学
功率(物理)
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期刊:Semiconductor Science and Technology 作者:Xiaozhang Chen; Huawei Chen; Zhen Wang; Yuwei Shan; David Wei Zhang; et al 出版日期:2018-10-17 |
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