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Post-CMOS Compatible Aluminum Scandium Nitride/2D Channel Ferroelectric Field-Effect-Transistor Memory
相关领域
材料科学
铁电性
光电子学
晶体管
场效应晶体管
原子层沉积
非易失性存储器
电介质
铁电RAM
纳米技术
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期刊:Nano Letters 作者:Xi-Wen Liu; Dixiong Wang; Kwan-Ho Kim; Keshava Katti; Jeffrey Zheng; et al 出版日期:2021-04-21 |
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