| 标题 |
Impact of Profiled LDD Structure on Hot Carrier Degradation of nMOSFET's
相关领域
降级（电信）
材料科学
光电子学
电子工程
计算机科学
工程类
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| 其它 | ESSDERC '96: Proceedings of the 26th European Solid State Device Research Conference，Date of Conference: 09-11 September 1996；Hoon-Soo Park; Kwang-Soo Kim; Sang-June Park; Se-Joong Oh; Jung-Suck Lee; Print ISBN:286332196X |
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