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Resistivity Scaling Transition in Ultrathin Metal Film at Critical Thickness and Its Implication for the Transparent Conductor Applications
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期刊:Advanced Electronic Materials 作者:Yong‐Bum Park; Changyeong Jeong; L. Jay Guo 出版日期:2021 |
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2022-05-27 15:46:48 发布,悬赏 10 积分
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