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![]() 一种提高3D NAND Flash可靠性的高效动态阈值电压检测方案
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期刊:IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 作者:Linxin Yin; Y. Li; Xiaoyi Zhang; Xiongfei Zhai; Guojun Han 出版日期:2024-01-01 |
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