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 Thermal boundary resistance measurement and analysis across SiC/SiO2 interface SiC/SiO2界面热阻的测量与分析
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期刊：Applied Physics Letters 作者：Shichen Deng; Chengdi Xiao; Jiale Yuan; Dengke Ma; Junhui Li; et al 出版日期：2019-09-06 |
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