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 A Method to Characterize the Shrinking of Safe Operation Area of Metallized Film Capacitor Considering Electrothermal Coupling and Aging in Power Electronics Applications 电力电子应用中考虑电热耦合和老化的金属化薄膜电容器安全工作区收缩表征方法
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期刊：IEEE Transactions on Industrial Electronics 作者：Chunlin Lv; Jinjun Liu; Yan Zhang; Jinpeng Yin; Rui Cao; et al 出版日期：2023-02-01 |
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