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Probing Bias-Induced Electron Density Shifts in Metal–Molecule Interfaces via Tip-Enhanced Raman Scattering
用尖端增强拉曼散射探测金属-分子界面偏压诱导的电子密度位移
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期刊:Journal of the American Chemical Society 作者:Kai Braun; Otto Hauler; Dai Zhang; Xiao Wang; Thomas Chassé; et al 出版日期:2021-01-25 |
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