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Degradation mechanisms analysis for SiC power MOSFETs under repetitive power cycling stress
SiC功率MOSFET在重复功率循环应力下的退化机理分析
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期刊:Journal of Physics D 作者:Yunliang Rao; Yuan Chen; Zhiyuan He; Chen Yiqiang; Chang Liu; et al 出版日期:2021-11-09 |
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