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 Defect Engineering for High Performance and Extremely Reliable a‐IGZO Thin‐Film Transistor in QD‐OLED QD-OLED中高性能高可靠性a-IGZO薄膜晶体管的缺陷工程
相关领域
薄膜晶体管
材料科学
光电子学
晶体管
无定形固体
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纳米技术
电气工程
电压
图层（电子）
结晶学
工程类
化学
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期刊：Advanced electronic materials 作者：Young‐Gil Park; Dong Yeon Cho; Ran Kim; Kang Hyun Kim; Ju Won Lee; et al 出版日期：2022-02-18 |
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