标题 |
![]() 用于通过光学显微镜直接拉伸测试纳米纤维的集成芯片式标签
相关领域
材料科学
纳米纤维
光学显微镜
显微镜
极限抗拉强度
炸薯条
拉伸试验
复合材料
纳米技术
扫描电子显微镜
光学
计算机科学
电信
物理
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Physica Scripta 作者:Kunpeng Li; Junlei Bai; Xinpeng Jin; Bin Ding; Xiaohua Zhang 出版日期:2025-02-10 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|