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Origins and characterization techniques of stress in SiC crystals: A review
SiC晶体中应力的来源及表征技术
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期刊:Progress in Crystal Growth and Characterization of Materials 作者:Jiaqi Tian; Xuejian Xie; Laibin Zhao; Xinglong Wang; Xiufang Chen; et al 出版日期:2024-02-01 |
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