标题 |
Optical parameter inversion of thin films based on angular reflectance spectroscopy
基于角反射光谱的薄膜光学参数反演
相关领域
材料科学
反演(地质)
光学
反射率
薄膜
光谱学
光电子学
物理
纳米技术
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古生物学
构造盆地
量子力学
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期刊:Chinese Journal of Physics 作者:Jianxiao Liu; Linghui Meng; Shen V. Chong; Jiong‐Ju Hao; Hongwei Yang 出版日期:2024-10-01 |
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