Histogram method for reliable thickness measurements of graphene films using atomic force microscopy (AFM)

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标题	Histogram method for reliable thickness measurements of graphene films using atomic force microscopy (AFM) 利用原子力显微镜（AFM）可靠测量石墨烯薄膜厚度的直方图方法相关领域石墨烯材料科学设定值原子力显微镜振幅表面粗糙度表面光洁度轮廓仪纳米技术标准差光电子学分析化学（期刊）光学复合材料统计物理人工智能色谱法计算机科学化学数学
网址	https://doi.org/10.1016/j.jmst.2016.07.020
DOI	10.1016/j.jmst.2016.07.020 doi
其它	期刊：Journal of Materials Science & Technology 作者：Yaxuan Yao; Lingling Ren; Sitian Gao; Shi Li 出版日期：2016-12-21
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