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Efficient Measurement of Key-Cap Flatness for Computer Keyboards With a Multi-Line Structured Light Imaging Approach
用多线结构光成像方法有效测量计算机键盘键帽平面度
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期刊:IEEE Sensors Journal 作者:Huisi Miao; Changyan Xiao; Min Wei; Yucheng Li 出版日期:2019-11-01 |
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