A Reliable 1T1C FeRAM Using a Thermal History Tracking 2T2C Dual Reference Level Technique for a Smart Card Application Chip

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标题	A Reliable 1T1C FeRAM Using a Thermal History Tracking 2T2C Dual Reference Level Technique for a Smart Card Application Chip 智能卡应用芯片中采用热历史跟踪2T2C双参考电平技术的可靠1T1C FeRAM 相关领域铁电RAM 兆位 EEPROM 炸薯条感测放大器计算机硬件电气工程计算机科学存储单元嵌入式系统电容器材料科学晶体管半导体存储器工程类电压
网址	https://doi.org/10.1093/ietele/e90-c.10.1941
DOI	10.1093/ietele/e90-c.10.1941 doi
其它	期刊：IEICE Transactions on Electronics 作者：Seiichiro Kawashima; I. Fukushi; K. Morita; Kenichi Nakabayashi; M. Nakazawa; et al 出版日期：2007-10-01
求助人	忐忑的猪在 2024-03-05 11:08:22 发布自广东，悬赏 10 积分
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