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 Trapping Behaviors in CNTFETs: Measurement and analysis of time constant, energy level, and trap location based on transient drain current CNTFETs中的陷阱行为：基于瞬态漏极电流的时间常数、能级和陷阱位置的测量和分析
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期刊：IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 作者：Shijie Pan; Hui Zhu; Shiwei Feng; Yang Yang; Chao Xu; et al 出版日期：2025-01-01 |
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