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 Defect Formation in MIS Structures Based on Silicon with an Impurity of Ytterbium 含镱杂质的硅基MIS结构中的缺陷形成
相关领域
镱
硅
杂质
材料科学
光学
结晶学
光电子学
化学
兴奋剂
物理
有机化学
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期刊：East European Journal of Physics 作者：Kh.S. Daliev; Sharifa B. Utamuradova; Jonibek J. Khamdamov; Mansur B. Bekmuratov; Oralbay N. Yusupov; et al 出版日期：2024-12-08 |
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六里桥卖糖葫芦的
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