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Performance characterization of a silicon strip detector for spectral computed tomography utilizing a laser testing system
利用激光测试系统表征光谱计算机断层扫描用硅条探测器的性能
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期刊:Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering/Proceedings of SPIE 作者:Cheng Xu; Mats Danielsson; Staffan Karlsson; Christer Svensson; Hans Bornefalk 出版日期:2011-03-03 |
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