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Infrared Free Induction Decay (IR-FID) of Non-Interfacial Origin Observed in the Interfacial Sum-Frequency Generation Vibrational Spectroscopy (SFG-VS)
界面和频产生振动光谱(SFG-VS)中观察到的非界面起源的红外自由感应衰变(IR-FID)
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期刊:The Journal of Physical Chemistry C 作者:B. H. Zhao; Xing-Xing Peng; Zhang Li; Zheng‐Tang Liu; Jingming Cao; et al 出版日期:2024-01-10 |
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