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 Characterization of the Free-carrier Concentrations in Doped n-type 4H-and 6H-SiC Crystals by Raman Scattering 掺杂n型4H-和6H-SiC晶体中自由载流子浓度的拉曼散射表征
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期刊：The Journal of Light Scattering 作者：Yang Su-hua 出版日期：2007-01-01 |
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