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Hydrogen sulphide (H2S) single gas testing on power semiconductor modules under high voltage
高压下功率半导体模块的硫化氢(H2S)单一气体测试
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期刊:Microelectronics Reliability 作者:Michael Hanf; J.-H. Peters; Sven Clausner; Nando Kaminski 出版日期:2022-09-24 |
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