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 Band alignment of Ga2O3/Si heterojunction interface measured by X-ray photoelectron spectroscopy 用X射线光电子能谱测量Ga2O3/Si异质结界面的能带排列
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期刊：Applied Physics Letters 作者：Zhengwei Chen; Kazuo Nishihagi; Xu Wang; Katsuhiko Saito; Tooru Tanaka; et al 出版日期：2016-09-05 |
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