| 标题 |
 Deep learning's impact on contour extraction for design based metrology and design based inspection 深度学习对基于设计的计量和基于设计的检测轮廓提取的影响
相关领域
薄脆饼
人工智能
小型化
计算机科学
计量学
平版印刷术
光学接近校正
过程（计算）
计算机视觉
模式识别（心理学）
材料科学
光学
光电子学
纳米技术
物理
操作系统
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊： 作者：Ryo Yumiba; Masayoshi Ishikawa; Shinichi Shinoda; Shigetoshi Sakimura; Yasutaka Toyoda; et al 出版日期：2019-03-26 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
毛豆
彭于彦祖
劲秉
杳鸢
喵喵盖被
模糊中正
子车茗
我是站长才怪
prosperp
坚强的广山
Macarsa
个性的紫菜
22222
Ganlou
Billy
萧水白
pluto
8R60d8
活力小夏
寻道图强
皖公网安备34019202002308
