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Leakage current and rectification behavior of Au / TiO2 / GaN junctions with TiO2 interlayer oxygen deposition pressure
Au/TiO2/GaN结的漏电流和整流行为随TiO2层间氧沉积压力的变化
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期刊:Current applied physics 作者:Youngjin Lee; Seung‐Hyeon Kang; Jung‐Hee Lee; Joonghoe Dho 出版日期:2020-01-01 |
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