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Identification of electron and hole trap based on isothermal surface potential decay model
基于等温表面势衰减模型的电子和空穴陷阱识别
相关领域
等温过程
电子
材料科学
存水弯(水管)
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化学物理
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聚乙烯
原子物理学
化学
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期刊:Journal of Applied Physics 作者:Wen-Wei Shen; Hai-Bao Mu; Guanjun Zhang; Jian Deng; Demin Tu 出版日期:2013-02-25 |
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