Intergranular Cracking as a Major Cause of Long-Term Capacity Fading of Layered Cathodes

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标题	Intergranular Cracking as a Major Cause of Long-Term Capacity Fading of Layered Cathodes 晶间裂纹是层状阴极长期容量衰减的主要原因相关领域淡出晶间腐蚀容量损失材料科学衰退电极开裂微晶电池（电）动力学阳极化学工程复合材料阴极冶金微观结构化学热力学电信计算机科学物理功率（物理）物理化学工程类操作系统量子力学解码方法
网址	https://doi.org/10.1021/acs.nanolett.7b00379
DOI	10.1021/acs.nanolett.7b00379 doi
其它	期刊：Nano Letters 作者：Hao Liu; Mark Wolfman; Khim Karki; Young‐Sang Yu; Eric A. Stach; et al 出版日期：2017-05-26
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