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 Recent advances of short-pulse laser–induced breakdown effect on charge-coupled device detectors 短脉冲激光对电荷耦合器件探测器击穿效应的研究进展
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期刊：Optics and Laser Technology 作者：Yun‐Fei Li; Zi-Long Kou; Wei Gong; Ya-Chong Hou; Xiaofan Xie; et al 出版日期：2022-12-01 |
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