标题 |
![]() 用于IC以亚100纳米分辨率进行无损3D成像的传输X射线显微镜(TXM)
相关领域
材料科学
堆栈(抽象数据类型)
分辨率(逻辑)
聚焦离子束
光学
集成电路
显微镜
透射电子显微镜
图像分辨率
硅
基质(水族馆)
扫描电子显微镜
显微镜
光电子学
纳米技术
计算机科学
离子
物理
地质学
人工智能
复合材料
海洋学
程序设计语言
量子力学
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Proceedings - International Symposium for Testing and Failure Analysis 作者:Steve Wang; Frederick Duewer; S. Kamath; Christopher V. Kelly; Alan Lyon; et al 出版日期:2002-10-01 |
求助人 | |
下载 | 暂无链接,等待应助者上传 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|