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Dual-element substitution induced integrated defect structure to suppress voltage decay and capacity fading of Li-rich Mn-based cathode
双元素替代诱导集成缺陷结构抑制富锂锰基阴极电压衰减和容量衰减
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期刊:Journal of Colloid and Interface Science 作者:Zhigui Zhang; Pengzu Kou; Yu Chen; Runguo Zheng; Zhiyuan Wang; et al 出版日期:2025-01-01 |
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