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 Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology 二氧化硅及相关电介质中的缺陷：科学与技术
相关领域
电介质
材料科学
工程物理
计算机科学
工程类
光电子学
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期刊：Springer eBooks 作者：Gianfranco Pacchioni; Linards Skuja; David L. Griscom 出版日期：2000-01-01 |
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