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 Back to Michelson interferometer: a precise inspection system for industrial intricate structures defect detection 回到迈克尔逊干涉仪：用于工业复杂结构缺陷检测的精确检测系统
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期刊：Measurement Science and Technology 作者：Xiaogen Xu; Diyang Gu; Shaohua Gao; Lei Sun; Xingyu Lu; et al 出版日期：2023-12-28 |
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