标题 |
Process-induced magnetic tunnel junction damage and its recovery for the development of spin–orbit torque magnetic random access memory
自旋轨道力矩磁随机存取存储器的过程诱导磁隧道结损伤及其恢复
相关领域
磁阻随机存取存储器
材料科学
蚀刻(微加工)
隧道磁电阻
反应离子刻蚀
薄脆饼
制作
光电子学
铁磁性
堆栈(抽象数据类型)
铁磁性
凝聚态物理
工程物理
纳米技术
图层(电子)
磁化
计算机科学
随机存取存储器
磁场
工程类
病理
物理
医学
程序设计语言
替代医学
量子力学
计算机硬件
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Journal of magnetism and magnetic materials 作者:S. Z. Rahaman; Yao‐Jen Chang; Yu-Chen Hsin; Shan-Yi Yang; Hsin‐Han Lee; et al 出版日期:2023-01-01 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|