标题 |
A new approach to detect surface defects from 3D point cloud data with surface normal Gabor filter (SNGF)
基于表面正态Gabor滤波器的三维点云数据表面缺陷检测新方法
相关领域
点云
曲面(拓扑)
正常
Gabor滤波器
材料科学
滤波器(信号处理)
分割
点(几何)
计算机视觉
人工智能
曲面重建
计算机科学
生物系统
算法
几何学
图像(数学)
数学
生物
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Journal of Manufacturing Processes 作者:Eddie Taewan Lee; Zhaoyan Fan; Burak Sencer 出版日期:2023-04-01 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|