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 Impact of High-Temperature Forward Bias Stress on the Electrical Performance Degradation of $\beta$-Ga$_{\text{2}}$O$_{\text{3}}$ Schottky Barrier Diodes 高温正向偏压对$\beta$-Ga$_{\text{2}}$O$_{\text{3}}$肖特基势垒二极管电性能退化的影响
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Sunyan Gong; Xuefeng Zheng; Shaozhong Yue; Yuehua Hong; Fang Zhang; et al 出版日期：2024-07-12 |
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