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Characterization and modeling of a highly reliable metal-to-metal antifuse for high-performance and high-density field-programmable gate arrays
用于高性能和高密度现场可编程门阵列的高可靠金属对金属反熔丝的表征和建模
相关领域
材料科学
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无定形固体
电介质
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光电子学
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期刊: 作者:Chih‐Ching Shih; R. Lambertson; Frank Hawley; F. Issaw; John McCollum; et al 出版日期:2002-11-22 |
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