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Dislocations in 4H-SiC epilayers for power devices: Identification, formation, and regulation
功率器件用4H-SiC外延层中的位错:识别、形成和调节
相关领域
材料科学
鉴定(生物学)
功率(物理)
碳化硅
光电子学
工程物理
功率半导体器件
复合材料
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工程类
生物
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其它 |
期刊:Materials Science in Semiconductor Processing 作者:Yifei Li; Peng‐Xiang Hou; Shuangyuan Pan; Pin Wang; Weiwei Cheng; et al 出版日期:2024-11-26 |
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